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Poverhnostʹ. Rentgenovskie, sinhrotronnye i nejtronnye issledovaniâ
ISSN 1028-0960 (Print)
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Informaçao sobre o Autor

Vasilyan, M. S.

Edição Seção Título Arquivo
Nº 9 (2023) Articles Use of Special Devices for X-Ray Interferometric Investigation of Structural Imperfections in Single Crystals
Nº 2 (2024) Articles Investigation of the Effect of Defocusing on Interference Patterns Obtained in X-Ray Three-Block Interferometers
 

 

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